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英伟达CEO否认与台积电关系紧张:Blackwell芯片设计缺陷导致良品率低

1年前
【英伟达CEO否认与台积电关系紧张:Blackwell芯片设计缺陷导致良品率低】黄仁勋明确表示,Blackwell架构的产品确实存在一个设计上的小瑕疵,这个瑕疵虽对芯片的基本功能不构成影响,但却不可避免地降低了良品率。黄仁勋强调,这是英伟达单方面的问题,与台积电毫无干系,且不会影响双方未来的合作。

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